Июль 2023 г. Журнал «Новости метрологии»

Сообщение редакции:

Вступая в «ленивые дни» лета и в долгожданный сезон отпусков, мы были приятно удивлены высоким уровнем активности, достигнутым нашей службой новостей в этом месяце. Обильные презентации новых продуктов, возобновление приобретений после затишья и постоянный поток объявлений о партнерстве указывают на то, что компании активно укрепляют свои продуктовые планы и стратегические направления.

Среди этого непрерывного потока новостей он служит напоминанием о первостепенном значении, которое сектор метрологии имеет в сфере производства в различных отраслях и процессах. Его роль в обеспечении точности, единообразия и совершенства в производстве продукции невозможно переоценить. В новейшую эпоху интеллектуального производства внедрение передовых сенсорных технологий, таких как оптические датчики, лазерные сканеры и системы визуализации высокого разрешения, стало обязательным. Для полного внедрения интеграции Индустрии 4.0 необходимы расширенные возможности подключения, обмена данными и автоматизации метрологических систем, обеспечивающие мониторинг в реальном времени, ускорение принятия решений и поднятие управления процессами на новую высоту.

Появление искусственного интеллекта и машинного обучения знаменует собой поворотный момент в развитии метрологических технологий. Эти технологии революционизируют процессы измерения, анализируя огромные объемы данных, выявляя сложные закономерности и тенденции, которые легко могут остаться незамеченными. В результате метрологические процессы становятся более эффективными и надежными, что обещает повышенную точность и надежность в будущем.

Поскольку аддитивное производство продолжает получать широкое распространение в различных отраслях, метрология призвана взять на себя жизненно важную роль в обеспечении качества и точности печатных деталей. В этом контексте быстро появляются методы метрологии на месте, позволяющие отслеживать и контролировать производственный процесс в режиме реального времени во время печати. Разработки обладают потенциалом для обеспечения высочайших стандартов точности и постоянства на протяжении всего процесса аддитивного производства.

Несомненно, сейчас для метрологического сектора наступили исключительно динамичные и захватывающие времена. В информационном бюллетене этого месяца мы выделяем подборку из более чем 80 историй, опубликованных в июле. Редакционные статьи в этом месяце включали: «Метрология 4.0 – действительно ли это происходит и как?»; «Производство, управляемое данными: использование потенциала систем замкнутого цикла»; «Расцвет промышленных роботов – и что?»; «Метрология становится частью автоматизированных производственных систем» и «Превращение заводов в умных производителей с помощью искусственного интеллекта».

Полную библиотеку июльских статей можно получить, нажав здесь.

Как обычно, приветствую ваши комментарии, новости и мнения – мой почтовый ящик всегда открыт.

Кейт Миллс – издательский редактор

Полностью автоматизированный контроль поверхности для «умных» заводов

ZEISS выпустила новое поколение системы контроля поверхности ABIS. Новый датчик ZEISS ABIS III, спроектированный, разработанный и произведенный в Германии, обеспечивает надежный и ранний контроль всей поверхности детали в течение всего цикла благодаря объективной оценке и классификации всех видов дефектов, что делает автоматизированную систему идеальный инструмент для современных штамповочных цехов и авторемонтных мастерских, ориентированных на будущее… подробнее

Сканер большой площади для портативных и роботизированных приложений

Подразделение Manufacturing Intelligence компании Hexagon объявило о выпуске нового модульного 3D-лазерного сканера, предназначенного для контроля больших поверхностей и предназначенного для использования как с лазерным трекером, так и с портативными измерительными манипуляторами. Новый Absolute Scanner AS1-XL построен на той же технологии SHINE, что и его флагманский Absolute Scanner AS1, что позволяет ему собирать чрезвычайно чистые 3D-данные на очень высоких скоростях даже с самых сложных типов поверхностей. С более широкой линией сканирования… подробнее

Метрология 4.0 – действительно ли это происходит и как?